測試系統

Inframet是全球能夠(gou)提供(gong)用于測試所有類(lei)型的(de)(de)光(guang)電(dian)成像(xiang)系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)和激(ji)光(guang)系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)（紅外(wai)熱(re)成像(xiang)儀(yi)，夜(ye)視設備，VIS-NIR相機(ji)（CCD / CMOS / ICCD / EBAPS）相機(ji)） ，SWIR相機(ji)，UV相機(ji)，激(ji)光(guang)測距(ju)儀(yi)，激(ji)光(guang)指示(shi)器(qi)(qi)(qi)，激(ji)光(guang)照明器(qi)(qi)(qi)，激(ji)光(guang)指示(shi)器(qi)(qi)(qi)，多(duo)探測器(qi)(qi)(qi)監控(kong)系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)，融合圖(tu)(tu)像(xiang)相機(ji)）和此(ci)類(lei)系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)的(de)(de)模塊（圖(tu)(tu)像(xiang)增強器(qi)(qi)(qi)，IR FPA傳感器(qi)(qi)(qi)，CCD / CMOS / EBAPS探測器(qi)(qi)(qi)， 條紋管，離散紅外(wai)探測器(qi)(qi)(qi)）。 請查看專門針對(dui)不同類(lei)型的(de)(de)光(guang)電(dian)成像(xiang)系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)和模塊的(de)(de)章節中的(de)(de)詳細(xi)信(xin)息。 我(wo)們的(de)(de)研發及制造能力使(shi)Inframet能夠(gou)提供(gong)針對(dui)潛在客戶的(de)(de)特定需求而優(you)化的(de)(de)各種測試系(xi)統(tong)(tong)(tong)(tong)。

根據提供的(de)測試設備的(de)復雜程(cheng)度，Inframet建議一般可分(fen)為三組：

• 單一光(guang)電設備的測試(shi)系統

• 多套(tao)光電(dian)設備的測(ce)試系統

• 光電設備的計量測(ce)試系(xi)統

單(dan)一光電設(she)備(bei)的(de)(de)測試系(xi)統(tong)（例如用于測試紅外熱(re)成像儀(yi)的(de)(de)DT系(xi)統(tong)）被認(ren)為是簡單(dan)的(de)(de)情況。 我(wo)們絕大(da)多數(shu)的(de)(de)訂單(dan)都屬于這個類型。 但(dan)是，我(wo)們所有的(de)(de)測試系(xi)統(tong)都可以(yi)提供一系(xi)列不同技術復雜(za)程度的(de)(de)版本。 因此，在該組(zu)中可以(yi)找到用于測試短焦距紅外熱(re)像儀(yi)的(de)(de)相(xiang)對(dui)低成本的(de)(de)測試系(xi)統(tong)以(yi)及用于測試長焦空間(jian)應用紅外熱(re)像儀(yi)的(de)(de)昂貴的(de)(de)復雜(za)的(de)(de)測試系(xi)統(tong)。

多(duo)套光(guang)電設備(bei)(bei)的(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)(shi)系統(tong)通常(chang)適用(yong)(yong)于光(guang)電系統(tong)的(de)(de)大(da)型生產商或者維修保(bao)養車間，滿(man)足其(qi)對于一(yi)系列(lie)的(de)(de)光(guang)電系統(tong)測(ce)試(shi)(shi)(shi)要求而只選用(yong)(yong)單一(yi)的(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)(shi)設備(bei)(bei)用(yong)(yong)于光(guang)電系統(tong)的(de)(de)測(ce)試(shi)(shi)(shi)及計量。

光電(dian)設(she)備(bei)的(de)計(ji)量(liang)測試(shi)系(xi)統(tong)是Inframet可以執行的(de)訂單。在這(zhe)種情(qing)況下，Inframet提供的(de)測試(shi)所有光電(dian)設(she)備(bei)的(de)測試(shi)系(xi)統(tong)需要具(ju)備(bei)校(xiao)準和(he)如何使用現有的(de)本(ben)地計(ji)量(liang)中心進行再校(xiao)準校(xiao)的(de)能力(li)。通過這(zhe)種方式，客(ke)戶所在地區實現了測試(shi)光電(dian)設(she)備(bei)計(ji)量(liang)級別的(de)能力(li)，而不依賴(lai)于外部的(de)機構。

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